高溫老化試驗(yàn)箱什么時(shí)候會(huì)縮短設(shè)備早期故障？
2022-04-02 09:50 林頻儀器
高溫老化試驗(yàn)箱什么時(shí)候會(huì)縮短設(shè)備的早期故障？為了使產(chǎn)品達(dá)到滿(mǎn)意的合格率，大多數(shù)制造商在出廠(chǎng)前必須通過(guò)高溫老化試驗(yàn)箱的老化試驗(yàn)，上海林頻將為您解釋。
這樣可以降低和縮短老化過(guò)程帶來(lái)的成本和時(shí)間問(wèn)題，與其他產(chǎn)品一樣，半導(dǎo)體設(shè)備可能會(huì)因各種原因隨時(shí)出現(xiàn)故障。高溫老化試驗(yàn)箱是使半導(dǎo)體在短時(shí)間內(nèi)超載，避免早期使用故障。通常，由于設(shè)備和制造工藝的復(fù)雜性，未經(jīng)老化試驗(yàn)的半導(dǎo)體成品在使用中會(huì)出現(xiàn)許多問(wèn)題。
注：半導(dǎo)體早期故障是指開(kāi)始使用后幾小時(shí)至幾天內(nèi)出現(xiàn)的缺陷（取決于制造工藝的成熟度和裝置的整體結(jié)構(gòu)）。高溫老化試驗(yàn)箱老化后的裝置基本上需要大多數(shù)通過(guò)這段時(shí)間。我司技術(shù)部認(rèn)為，準(zhǔn)確確定老化時(shí)間的方法是參考以往收集的老化故障和故障分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，而大多數(shù)制造商希望減少或取消老化。